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  • ECM-100J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    ECM-100J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓, 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生, 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2024-10-14    訪問量:2187    型號:ECM-100
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  • ECMr-1000-n/ECMr-1000-nJ-RAS ECMr離子遷移試驗裝置
    ECMr-1000-n/ECMr-1000-nJ-RAS ECMr離子遷移試驗裝置
    J-RAS ECMr離子遷移試驗裝置,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。 離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHO
    更新時間:2024-10-14    訪問量:542    型號:ECMr-1000-n/ECMr-1000-n
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  • HVUα-3000VJ-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    HVUα-3000VJ-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF),在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
    更新時間:2024-10-14    訪問量:1525    型號:HVUα-3000V
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  • ECM-100離子遷移測試裝置(CAF)
    ECM-100離子遷移測試裝置(CAF)
    ECM-100離子遷移測試裝置(CAF)是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生( ION MIGRATION )。
    更新時間:2024-10-12    訪問量:7462    型號:ECM-100
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  • HVUα-2000V離子遷移實驗裝置(CAF)
    HVUα-2000V離子遷移實驗裝置(CAF)
    離子遷移實驗裝置(CAF) 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2024-10-14    訪問量:1609    型號:HVUα-2000V
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  • ECM-500J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    ECM-500J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)絕緣電阻值測試,在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
    更新時間:2024-10-14    訪問量:2192    型號:ECM-500
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